元件参数测试仪
 
     BJ2984A 半导体分离器件测试仪|美达 型号:BJ2984A
简介: BJ2984A半导体分离器件测试仪 BJ2984A半导体分离器件测试仪产品特点: BJ2984A半导体分离器件测试仪可对各种类锗、硅晶体二极管的瞬态热阻进行快速测试。对以环境温度Ta为参考点不带…
     BJ2984 三极管瞬态热阻测试仪|美达 型号:BJ2984
简介: BJ2984三极管瞬态热阻测试仪 本仪器可对各种类型锗,硅PNP及NPN型三极管的瞬态热阻参数进行快速测量。 选取被测管发射极正向压降Vbe作为温度热敏参数,利用特定条件下Vbe的温度系数M曲线之…
     BJ2983 三极管正偏二次击穿测试仪|美达 型号:BJ2983
简介: BJ2983三极管正偏二次击穿测试仪 BJ2983三极管正偏二次击穿测试仪测量NPN型晶体管三极管在直流,连续脉冲或单脉冲电流正向偏置条件下的二次击穿特性,仪器的配套电源为本厂的WD-9型晶体管…
     BJ2962 二极管反向恢复时间测试仪|美达 型号:BJ2962
简介: BJ2962二极管反向恢复时间测试仪 BJ2962二极管反向恢复时间测试仪主要参数 1。毫微秒信号发生器(1)频率:20KHZ误差:正负5%(2)脉宽:1.5uS误差:正负10%(3)脉冲幅度:9.8~30V,…
     BJ2961A 晶体管开关参数测试仪|美达 型号:BJ2961A
简介: BJ2961A智能化晶体管开关参数测试仪 BJ2961A智能化晶体管开关参数测试仪主要功能: 仪器主要测量测试中小功率半导体三极管开关参数,功率由100mW至1W的NPN或PNP型晶体管。 Td延迟时间 tr…
     BJ2923 晶体管综合参数测试仪|美达 型号:BJ2923
简介: BJ2923智能化晶体管综合参数测试仪 BJ2923智能化晶体管综合参数测试仪功能特点: 1。智能化自动测试。2。自动校准,自动选择最佳量程。3。测试前后管座自动断电。4。带打印机接口,可…
     BJ2922B 场效应管测试仪|美达 型号:BJ2922B
简介: BJ2922B场效应管测试仪 可测gm,Vp,Idss。数字显示
     8793F 照明专用测试仪|青智 型号:8793F
简介: 8793F照明专用测试仪 8793F照明专用测试仪可以组成一个完整的测试系统,也可以分别进行镇流器的输入和输出的测试。 适用于各种电子镇流器﹑卤钨灯﹑金属卤化物灯﹑高压钠灯等产品的大批量…
     CS7620 元件参数分析仪|长盛 型号:CS7620
简介: CS7620元件参数分析仪 CS7620具有如下众多的优异性能: 高精度 基本测量精度:0.05% 具有开路/短路/负载校准功能 高速度 快速:25次/秒(1pF在2MHz、1Vrms下测量) 中速:10次/秒(1p…
     HZ4838 晶体管特性图示仪|三科 型号:HZ4838
简介: HZ4838晶体管特性图示仪 晶体管特性图示仪是一种用示波管显示半导体器件的各种特性曲线,并可测量其静态参数的测试仪器。它功能强,操作方便,对于从事半导体管机理的研究及半导体在无线…
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